从内部,看见质量

ZEISS METROTOM 1使用方便,可提供精确的三维数据,确保由内而外的质量控制。

一次扫描,深入洞察

快速、直观且高度精确

ZEISS METROTOM 1为您工作的快速推进保驾护航:无需对零件进行任何预处理,即可采集精确的3D数据。借助计算机断层扫描技术,您可以对零件进行无损扫描并查看内部结构。能够测量、分析和检验隐蔽缺陷及内部结构。与ZEISS INSPECT软件结合使用,达到了简化质量控制流程的新境界。
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系统结构紧凑、操作简便,可为您采集任务数据

该系统操作简便,各类用户都可以通过该系统开启测量过程,并获取精确的数据。METROTOM 1体积小巧,可轻松适配您的空间。只需按下按钮,即可在机构内部开始测量和检查。这款智能、紧凑型解决方案配备了封闭式X射线管,旨在降低维护成本。

无需对零件进行任何预处理即可采集3D数据

您可以使用METROTOM 1进行无损扫描,检验内部结构和缺陷。无需对零件进行任何预处理,即可开始测量过程。在扫描下一个零件时,可同时对上一个零件进行检验或逆向工程。

多零件扫描

同时测量多个零件是METROTOM 1最高效的功能之一。规则很简单:最大程度地利用测量体积,实现大批量测量。结果:在确保测量效果的同时,缩短了每个零件的扫描时间。ZEISS INSPECT可自动分离和评估各个零件,从而快速提供测量结果报告。

检查内部结构和缺陷

METROTOM 1搭载的ZEISS INSPECT软件可指导您逐步完成测量过程。凭借体积可视化以及对扫描数据的检验功能,您可以了解零件的所有尺寸,包括隐藏部分的尺寸信息。通过对零件内部和外部结构的扫描,可以轻松对零件进行逆向工程处理。

既简单又高效。仅需一次扫描。METROTOM 1可为您提供以下支持:

  • 对中小型部件进行3D扫描
  • 精确测量
  • 质量检验和保证
  • 对废品进行深入分析
  • 对照CAD检查相应的部件

智能一体化概念

电压、功率、曝光时间和步数是计算机断层扫描(CT)的一些重要测量参数。ZEISS METROTOM 1在运行过程中,会依托ZEISS INSPECT自动确定这些参数值。软件可为您提供最佳起始值,从而降低扫描设置的复杂度。METROTOM 1以操作简便、采集速度快和评估功能直观为立足之本。一体化概念值得信赖。
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功能特点

主动平衡温度,实现精确测量结果

METROTOM 1可在多种环境中使用。其设计坚固耐用,除此之外,还可以防止内部温度出现波动。主动冷却系统可确保系统正常运行:它能确保系统内外温度完全相同,防止零件发生任何热膨胀。METROTOM 1是一款采用了前沿技术的、稳定的重负载系统。

测量结果非常精确

在生产过程中以及现场安装后,每台METOROTOM 1均会接受精度检查。进行精度检查时,会使用经过校准和德国认可委员会(DAkkS)认证的验收工具。您可以随时使用现场的校准物重新校准扫描仪。

ZEISS INSPECT为您提供数字化引导,以获得最佳效果

METROTOM 1搭载 ZEISS INSPECT软件,是以用户为中心的一体化软件解决方案,也是三维计量的既定标准。它功能强大,包括体积可视化和检验、尺寸计量、趋势分析和比较、缺陷检测和检验等,使其成为可充分发挥系统各项功能的理想工具。

每种应用的要求各不相同

在165 x 140 mm的测量体积内,可以轻松测量任何零件。可通过数字方式对测量体积进行微调。同时,还可以根据需要调整分辨率,加快测量过程,从而缩短扫描时间。

配件

METROTOM 1内部

这款紧凑型系统配备以下配件:

  • 校准物
  • 连续扫描模式
  • ZEISS INSPECT
  • 160 kV的X射线源
  • 主动温度控制
  • 操作站
  • 2.5k探测器
  • 温控柜
  • ZEISS研发的探测器

应用

无限的应用案例

无论是中型还是小型塑料零件——连接器、塑料盖、航空航天业使用的蜡芯等,METROTOM 1都能为您带来无限的可能,满足您的任何检测需求。对于需要批量检验中小型零件的公司来说,这款解决方案是理想之选。功能强大,用途广泛。

应用范围广泛

  • CAD与零件的标称值/实际值比较
  • 尺寸测量
  • 零件任意深度的截面检验
  • 分析壁厚分布
  • 首件的功能尺寸
  • 通过扫描按不同参数生产的多个样品,确保首件准确无误
  • 减少了过程中的迭代次数
  • 通过快速检验多个零件来监控生产过程
  • 工具/模具获批后采集实际值
  • 部件翘曲补偿
  • 检查透明物体和软聚合物等高要求产品
  • 组件的功能和误差分析
  • 无损分析材料缺陷,如气孔、孔隙或裂纹
  • 对现有零件或零件几何形状进行逆向工程
  • 验证工程设计

技术数据

METROTOM 1
X射线源
160 kV
X射线探测器(像素)
2.5 k (2,500 x 2,500)
测量体积
165 x 140 mm
计量规格(MPE SD)
5 µm +L/100
尺寸
1750 mm(宽)x 1820 mm(高)x 870 mm(深)
重量
2100 kg
软件
ZEISS INSPECT
体素尺寸
低至 32.6 µm

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