この動画では、GOM Inspectを使用した一般的なスキャン手法を紹介します。今回紹介するワークフローなら、表面データや深いポケット、細部も容易にスキャンできます。参照点のキャプチャからスキャンデータのポリゴン化に至るまでの包括的なプロセスと、3つのスキャンモードについて説明します。 チャプター 00:43 参照点のキャプチャ 01:16 背景のカットアウト 01:50 物体のスキャン 02:44 標準スキャンモード 03:10 シングルレーザー光線モード 04:01 細部のスキャン 05:33 スキャンデータのポリゴン化による最終メッシュの生成